DE406-6322射频导纳物位计

DE406-6322射频导纳物位计

技术参数：

测量精度 重复性 导电介质<2mm 非导电介质<50mm

温度范围 介质温度 —200℃∽+800℃（选择相应的传感器探头）

环境温度 —40℃∽+60℃ 储存温度 —40℃∽+60℃

响应时间 0.3s或0∽20s连续可调

灵敏度 优于0.3PF

温度影响 每10℃±0.05PF

信号输出 DPDT继电器输出，两组常开、常闭触点

触点容量：AC200V5安 DC24V5安

供电电源 220V AC或24V DC

功耗 4W

防护等级 IP66

过程连接 外螺纹G3/4″、G1″

法兰式GB-9123-2000 DN50 PN0.6MPa

传感器电J 加长杆式*长3m,*短0.4m,材质不锈钢304+PTFE 塑料、陶瓷，或约定的其它要求。

缆式*长35m，*短0.5m，材质不锈钢304+PTFE塑料或约定的其它要求。

保护电J 标准长度100mm或300mm材质不锈钢304+PTFE塑料、陶瓷或约定的其它要求。

外壳 A型塑料PBTP

B 型压铸铝、环氧树脂喷涂

电缆引入孔 M20x1.5 带塑料电缆密封套

测量原理：

射频导纳是一种从电容式发展起来的、防挂料、更可靠、适用性更广的新型物位控制技术，是电容式物位技术的升级。所谓射频导纳，导纳的含义为电学中阻抗的倒数，它由电阻性成分、电容性成分、感性成分综合而成，而射频即高频无线电波谱，所以射频导纳可以理解为用高频无线电波测量导纳。仪表工作时，仪表的传感器与灌壁及被测介质形成导纳值，物位变化时，导纳值相应变化，电路单元将测量导纳值转换成物位信号输出，实现物位测量。

对于连续测量，射频导纳技术与传统电容技术的区别除了上述讲过的以外，还增加了两个很重要的电路，这是根据导电挂料实践中的一个很重要的发现改进而成的。上述技术在这时同样解决了连接电缆问题，也解决了垂直安装的传感器根部挂料问题。锁增加的两个电路是振荡器缓冲器和交流变换斩波器驱动器。

对一个强导电性被测介质的容器，由于被测介质是导电的，接地点可以被认为在探头绝缘层的表面，对变送器来说仅表现为一个纯电容。随着容器排料，探杆上产生挂料，而挂料是具有阻抗的。这样以前的纯电容现在变成了由电容和电阻组成的复阻抗，从而引起两个问题。

*个问题是液位本身对探头相当于一个电容，它不消耗变送器的能量，（纯电容不耗能）。但挂料对探头等效电路中含有电阻，则挂料的阻抗会消耗能量，从而将振荡器电压拉下来，导致桥路输出改变，产生测量误差。我们在振荡器与电桥之间增加了一个缓冲放大器，使消耗的能量得到补充，因而不会降低加在探头的振荡电压。

另一个问题是对于导电被测介质，探头绝缘层表面的接地点覆盖了整个被测介质及挂料区，使有效测量电容扩展到挂料的顶端。这样便产生挂料误差，且导电性越强误差越大。但任何被测介质都不是*导电的。从电学角度来看，挂料层相当于一个电阻，传感元件被挂料覆盖的部分相当于一条由无数个无穷小的电容和电阻元件组成的传输线。根据数学理论，如果挂料足够长，则挂料的电容和电阻部分的阻抗相等。因此根据对挂料阻抗所产生的误差研究，又增加一个交流驱动器电路。该电路与交流变换器或同步检测器一起就可以分别测量电容和电阻，从而排除挂料的影响。

这些，多参量的测量，是须得基础，交流鉴相采样器是实现的手段。由于使用了上述三项技术，使得射频导纳技术在现场应用中展现出非凡的生命力。

DE406-6322射频导纳物位计

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